6 hazbeteko N motako SiC oblea

Semicorex-ek hainbat motatako 4H eta 6H SiC obleak eskaintzen ditu. Urte asko daramatzagu obleen fabrikatzaile eta hornitzaile. Gure leundu bikoitzeko 6 hazbeteko N motako SiC obleak prezio abantaila ona du eta Europako eta Amerikako merkatu gehienak estaltzen ditu. Zure epe luzerako bazkide bihurtzea espero dugu Txinan.

Bidali kontsulta

Produktuaren Deskribapena

Semicorex-ek silizio-karburoa (SiC) obleen produktuen linea osoa du, 4H eta 6H substratuak barne, N motako, P motako eta purutasun handiko oble erdi isolatzaileak dituztenak, epitaxiarekin edo gabe izan daitezke. Gure 4 hazbeteko N motako SiC (siliziozko karburoa) substratua siliziozko karburozko kristal bakarretik egindako kalitate handiko oblea da, N motako dopingarekin, leundu bikoitza duena.

6 hazbeteko N-motako SiC oblea energia-ibilgailu berrietan, goi-tentsioko transmisioan eta azpiestazioetan, ekipamendu zurietan, abiadura handiko trenetan, motor elektrikoetan, inbertsore fotovoltaikoetan, pultsatuko elikadura-iturrietan eta beste eremu batzuetan erabiltzen da, ekipamenduak murrizteko abantailak dituztenak. energia-galera, ekipoen fidagarritasuna hobetzea, ekipoen tamaina murriztea eta ekipoen errendimendua hobetzea eta abantaila ordezkaezinak ditu potentzia-gailu elektronikoak egiteko.

Elementuak	Ekoizpena	Ikerketa	Dummy
Kristal Parametroak
Politipoa	4H
Gainazalaren orientazio-errorea	<11-20 >4±0,15°
Parametro elektrikoak
Dopatzailea	n motako nitrogenoa
Erresistentzia	0,015-0,025 ohm·cm
Parametro mekanikoak
Diametroa	150,0 ± 0,2 mm
Lodiera	350±25 μm
Orientazio lau nagusia	[1-100]±5°
Lehen mailako luzera laua	47,5±1,5 mm
Bigarren mailako pisua	Bat ere ez
TTV	≤5 μm	≤10 μm	≤15 μm
LTV	≤3 μm (5mm*5mm)	≤5 μm (5mm*5mm)	≤10 μm (5mm*5mm)
Arkua	-15μm ~ 15μm	-35μm ~ 35μm	-45μm ~ 45μm
Warp	≤35 μm	≤45 μm	≤55 μm
Aurrealdeko (Si-aurpegia) zimurtasuna (AFM)	Ra≤0.2nm (5μm*5μm)
Egitura
Mikrohodiaren dentsitatea	<1 ea/cm2	<10 ea/cm2	<15 ea/cm2
Metalezko ezpurutasunak	≤5E10atomo/cm2		HORI
BPD	≤1500 ea/cm2	≤3000 ea/cm2	HORI
TSD	≤500 ea/cm2	≤1000 ea/cm2	HORI
Aurrealdeko Kalitatea
Aurrealdea	Eta
Gainazaleko akabera	Si-face CMP
Partikulak	≤60ea/oblea (tamaina ≥0.3μm)	HORI
Marradurak	≤5ea/mm. Luzera metatua ≤Diametroa	Luzera metatua≤2*Diametroa	HORI
Laranja azala/hobiak/orbanak/striadurak/ pitzadurak/kutsadura	Bat ere ez		HORI
Ertzaren txirbilak/koskak/hausturak/hexagonaleko plakak	Bat ere ez
Politipo eremuak	Bat ere ez	Azalera metatua≤% 20	Azalera metatua≤% 30
Aurrealdeko laser markaketa	Bat ere ez
Itzuli Kalitatea
Atzeko akabera	C-aurpegia CMP
Marradurak	≤5ea/mm, Luzera metatua ≤2*Diametroa	HORI
Atzeko akatsak (ertzetako txirbilak/koskak)	Bat ere ez
Bizkarreko zakartasuna	Ra≤0.2nm (5μm*5μm)
Atzeko laser bidezko markaketa	1 mm (goiko ertzetik)
Ertza
Ertza	Txanflarra
Enbalajea
Enbalajea	Epi-prest hutsean ontziratzearekin Ostia anitzeko kaseteen ontziratzea
*Oharrak: "NA" esan nahi du ez dagoela eskaerarik Aipatutako elementuek SEMI-STD-i erreferentzia egin dezakete.